K-MAC公司的OSP产品（ST 2080-OSP）用于测量PCB/PWB铜基板上OSP涂层的厚度，通过分析薄膜表面和基板表面反射光产生的干涉进行测量，该技术是一种非破坏性光学测量方法，可提供平均厚度和详细三维表面轮廓信息，并且可以实时监测。
  OSP产品可测量微小面积的测量区域，具有自动调焦功能，配备M5X和M50X两种光学透镜，可以分别获得微细图形及详细三维表面轮廓信息。同时测量多点以及所有测量结果可以以三维表面轮廓形式显示出来，使得OSP产品比其他测量系统更具优越性。
   ST2080-OSP手动平台&自动聚集
   波长范围：420nm～640nm
   厚度测量范围：350Å~3μm
最小光斑尺寸：1.48μm ，0.148μm
靶面积：864*648μm / 86.4*64.8μm
透镜：M5X,M50X
测量层数：1
样品台尺寸：250mm*250mm
Z轴重复性：±1μm
可选：手动微型平台
仪器尺寸：380mm（W）*440mm（L）*290mm（H）检测器
          380mm（W）*440mm（L）*260mm（H）控制器